技术参数 型号规格 JQ-B240 测试系统 测试模组/成像模组 / 暗室模组 检测时间 (S) 1~5S 检测对象 晶体硅组件;单晶/多晶 检测方式 白天暗室检测/夜晚支架上组件直接检测 可判断缺陷类型 隐裂/断栅/黑心/黑边/低效率片/烧结网纹/碎片/边缘过刻/材料缺陷 成像系统 分辨率:2400W, 自动对焦 内置无线传输模组/外接远程无线wifi 暗室系统 暗室帐篷 面积(mm):2200*2200*1300(可定制) 上电电源(可选) 直流稳压电源 60V10A(标配) 便携式发电机(可选) 多组件供电电源(可选) 上电模式 手动连接组件上电 产品配置单 序号 系统名称 规格 数量 单位 1 成像系统 红外相机 1 套 2 平板电脑 1 套 3 无线wifi 1 套 4 暗室系统 暗室帐篷 1 套 5 组件放置架 1 套 6 暗室支架 1 件 7 相机支架 1 件 8 电源 直流稳压电源 1 台 9 外接线 外接延长线 1 根 10 其他 拉杆箱 1 件 11 其他 手提包 1 件